上海双岸电子科技有限公司

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形状测量激光显微系统VK-X3000

纳米/微米/毫米一台即可完成测量

KEYENCE VK-X3000系列形状测量激光显微系统观察应用于半导体、金属、材料、SMT制造等领域的研究，进行快速景深合成和高精细景深合成，浏览观察三维图像：进行实时2D&3D图像连接，获取清晰度较高的广角图像：在画面上实时测量观察对像的尺寸、面积、角度，体积、表面积，面间角度、面间距离等。